AVR電(dian)(dian)路(lu)(lu)由整(zheng)流(liu)主回(hui)路(lu)(lu)，電(dian)(dian)壓檢測電(dian)(dian)路(lu)(lu)，比(bi)較控制電(dian)(dian)路(lu)(lu)三個部分(fen)組成；排除原有電(dian)(dian)氣元件本身質量(liang)上的(de)原因造成損(sun)壞(huai)的(de)可(ke)能性而(er)言，在整(zheng)塊(kuai)AVR電(dian)(dian)路(lu)(lu)中，主回(hui)路(lu)(lu)和比(bi)較控制電(dian)(dian)路(lu)(lu)的(de)工作頻率(lv)變(bian)動最大；其中主回(hui)路(lu)(lu)的(de)整(zheng)流(liu)橋(qiao)和比(bi)較電(dian)(dian)路(lu)(lu)中的(de)晶體管變(bian)動更頻，其損(sun)壞(huai)比(bi)例占整(zheng)塊(kuai)AVR損(sun)壞(huai)率(lv)的(de)90%以(yi)上； AVR屬于非拆修配(pei)件，損(sun)壞(huai)了(le)就要換新的(de)，所以(yi)，我們(men)主要分(fen)析造成發電(dian)(dian)機上的(de)AVR損(sun)壞(huai)的(de)原因，盡(jin)可(ke)能避免AVR的(de)損(sun)壞(huai)是(shi)最重要的(de)，只要使用適當，可(ke)以(yi)提高AVR的(de)使用壽命。

　　（1）發(fa)電機電壓越(yue)穩定，AVR內(nei)的(de)變動頻率越(yue)小(xiao)；比(bi)較電路中的(de)晶體(ti)管的(de)開關動作越(yue)小(xiao)，AVR損壞的(de)幾率越(yue)小(xiao)；

　　（2）輸出(chu)負載相對平穩，AVR內的變動(dong)頻率越(yue)(yue)(yue)小(xiao)，比較電路中的晶(jing)體管的開關動(dong)作越(yue)(yue)(yue)小(xiao)，AVR損壞(huai)的幾率越(yue)(yue)(yue)小(xiao)；

　　（3）發電機(ji)的轉速越穩定(ding)，變化電流對(dui)AVR的振蕩沖擊越小；

　　（4）經常性(xing)的“游車”和超負(fu)載、負(fu)載相差太大是造成(cheng)AVR損壞的最主要原因；